베이스는 최고의 신뢰성을 바탕으로
시험인증 관련 기술과 정보를 제공합니다.
시험인증 관련 기술과 정보를 제공합니다.
현미경 분석 장비
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Normal SEM
일반적인 샘플의 이미지 분석 및 EDS분석을 통해 정성
분석도 가능한 장비입니다. -
FE-SEM
가장 높은 성능의 전자 현미경으로 10만 배율 이상에서도
안정적인 이미지 분석 및 EDS분석을 통해 정성 분석도
가능한 장비입니다. -
광학 현미경
Nikkon 현미경으로 10x~5,000x 고배율 이미지 확인
가능한 장비입니다. -
공구현미경
Dessemicon 현미경으로 10x~5,000x 고배율 이미지
확인 가능한 장비입니다. -
3D 현미경
X, Y축 스트로크:70×70mm/높이 측정 범위:7mm
측정
가능합니다. -
고온현미경
온도 변화에 따른 시료의 소성 거동 (수축시작, 수축완료,
Half Ball 등)을 모니터로 실시간 파악하기 위한 장비입니다. -
고온현미경
온도 변화에 따른 시료의 소성 거동 (수축시작, 수축완료,
Half Ball 등)을 모니터로 실시간 파악하기 위한 장비로서
최대 8개의 3x2mm 시료를 동시에 분석 기능을 제공합니다.
