베이스는 최고의 신뢰성을 바탕으로
시험인증 관련 기술과 정보를 제공합니다.
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조성 분석 장비
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ICP-OES (Inductively Coupled Plasma-
Optical Emission Spectrometer) 분석기유도결합 플라즈마 분광분석법(원자 방출)을 이용하여
시료내에 특정 원소의 파장에서의 양을 측정하는
분석
장비이며 , 약 80여가지의 미량의 무기 원소의
농도를
정량 및 정성 분석이 가능합니다. -
XRF (X-Ray Fluorescence)분석기
X-선 형광 분석법을 통해 원소별로 방출하는 고유의
스펙트럼을
분석하여 다양한 샘플 유형의 무기 원소에 대한
정성 및 정량
분석을 신속하게 분석 가능한 장비입니다. -
EDS (Energy Dispersive Spectrometer) 분석기
에너지 분산형 X-선 분광법으로 특정 X선을 검출하여
성분을 분석하는 것으로
주사현미경(SEM)에 부착하여
이미지로 성분을 정성, 정량 분석하는 장비입니다.
