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시험인증 관련 기술과 정보를 제공합니다.
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광특성 분석 장비
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적분구 측정
광원에서 방사되는 빛을 포집하여 CIE_X,CIE_Y, CCT, CRI,
광효율 등을 측정하기 위한 광학 장비입니다. -
형광체 PL 측정기
형광체의 고유 특성을 평가하는 장비로서 개별 형광체에
대한 Wavelength (nm) 및 Quantum Yield (QY) 값
측정
하는 장비입니다. -
투과율 측정기
190~2700nm의 파장 범위내에서 시료의 투과율 및 Haze를
측정하는 장비입니다. -
맥리 측정기
유리 및 필름의 표면 또는 내부의 결함 검사를 위한
광학 조명
장치입니다. -
굴절율 측정기
450nm~1100nm의 파장 범위내에서 굴절율 Abbe수
측정하는 장비입니다. -
잔류 응력 측정기
유리 또는 플라스틱 등의 투명 재료의 단면을 촬영하여
폭 방향에 걸려있는 응력 분포를 자동으로 측정해주는
장치입니다.
