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시험인증 관련 기술과 정보를 제공합니다.
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구조 분석 장비
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XRD (X-Ray Diffraction)
물질의 결정 구조에 따라 고유한 회절 패턴을 가지고 있는데
이 회절패턴을 해석하여 결정 구조와 물성을 정량 분석 하는
장비입니다. -
FT-IR (Fourier Transform – InfraRed)
분석하고자 하는 물질이 광원으로부터 나온 빛의 특정 파장대
를 흡수하고, 그 결과물인 Interferogram을 푸리에 변환을
통해 해석하는 장비(푸리에 변환 적외선 분광기) 입니다. -
표면 조도 측정기
물질의 표면 거칠기를 접촉식 Touch 방식으로
측정 하는
장비입니다 -
XPS (X- ray Photoelectron Spectroscopy)
시료의 표면에 대한 정성, 정량 및 화학적 결합상태 분석에
이용
되며, 그 외에 깊이 방향 분석, 표면 이미지 등의
정보도 얻을 수
있어 표면, 계면 분석에 사용하는 장비입니다.
